特許
J-GLOBAL ID：200903095837151950
疲労試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-347448
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185787
出願日： 1996年12月26日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：
【要約】【課題】 高い共振周波数の微小構造体の疲労試験を可能とすること。【解決手段】 微小構造体10を加振制御部からの加振信号により共振状態で振動させてその疲労試験を行う疲労試験装置であり、振動変位検出部が微小構造体10の振動変位を検出し、得られた振動変位信号に対して発振制御部がこれに対して所定の位相差(90度+α)を有する発振制御信号を発生し、これに応じた加振信号が微小構造体10に印加される。振動変位信号に対してPLL発振回路56が90度の位相差の方形波を発生し、位相シフト回路58がこれを所定量α位相シフトし、対応した加振信号が作成される。よって、微小構造体10に対する加振力と変位との位相差が一定に維持されるようにフィードバック制御され、安定的に振動させて疲労試験することが可能となる。さらに、微小構造体10の振動振幅が目標振幅となるように制御してもよい。
請求項（抜粋）：
微小構造体である被試験体を共振状態で振動させ、前記被試験体の疲労試験を行う疲労試験装置であって、前記被試験体の振動変位を検出する振動変位検出部と、検出して得られた振動変位信号に対して所定の位相差を有する発振制御信号を発生する発振制御部と、前記発振制御信号に応じた加振信号を前記被試験振動体に印加して振動させるための振動体加振部と、を有することを特徴とする疲労試験装置。
IPC (3件)：
G01N 3/32
, G01M 7/02
, G01P 21/00
G01N 3/32 Z
, G01P 21/00
, G01M 7/00 B
