特許
J-GLOBAL ID:200903095862092968

静電潜像現像用キャリア及び静電潜像現像用現像剤

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-161161
公開番号(公開出願番号):特開2007-328277
出願日: 2006年06月09日
公開日(公表日): 2007年12月20日
要約:
【課題】高品質な画像を形成する静電潜像現像用キャリアおよび現像剤の提供。【解決手段】以下の条件を満たす静電潜像現像用キャリア。(1)平均円形度が0.975〜1.000、(2)短軸径20μm以下且つ水平外接矩形面積比が0.22〜0.55を示す不定形粒子の前記キャリア全体に対する割合X個数%が、X≦10、(3)磁束密度100〜150mTの磁石を有する表面粗さRz15〜25μm、φ15〜30mmスリーブを有する現像機を使用し、下記条件下で10時間回転させた後のキャリアの短軸径20μm以下且つ水平外接矩形面積比が0.22〜0.55を示す不定形粒子の割合がY個数%としたとき、Y/X≦2.0であること。現像機の使用条件;キャリア搬送量:350〜500g/m2、スリーブ回転速度:0.18〜0.38m/s、0.3×現像機内キャリア量≦キャリア搬送量×スリーブ回転速度≦0.6×現像機内キャリア量【選択図】図2
請求項(抜粋):
下記条件を満たすことを特徴とする静電潜像現像用キャリア。 (i)前記キャリアの平均円形度が0.975〜1.000。 (ii)短軸径20mμm以下且つ水平外接矩形面積比(S/DH-Feret×DV-Feret))0.22〜0.55を示す不定形粒子の前記キャリア全体に対する割合がX個数%、かつX≦10。 (式中、S:キャリアの投影面積、 DH-Feret:キャリアを挟む2組の平行線間の距離で定義される水平方向の接線径、 DV-Feret:キャリアを挟む2組の平行線間の距離で定義される垂直方向の接線径) (iii)磁束密度100〜150mTの磁石を有する表面粗さRz15〜25μm、φ15〜30mmスリーブを有する現像機を使用し下記条件下で10時間回転させた後のキャリアの短軸径20mμm以下且つ水平外接矩形面積比(S/(DH-Feret×DV-Feret))0.22〜0.55を示す不定形粒子の割合がY個数%としたとき、下記式を満たす。 [数1] Y/X≦2.0 [現像機の使用条件]
IPC (2件):
G03G 9/113 ,  G03G 15/08
FI (2件):
G03G9/10 351 ,  G03G15/08 507K
Fターム (11件):
2H005BA06 ,  2H005EA05 ,  2H005EA10 ,  2H077AD02 ,  2H077AD06 ,  2H077AD13 ,  2H077AD18 ,  2H077BA03 ,  2H077EA03 ,  2H077FA01 ,  2H077GA03
引用特許:
出願人引用 (4件)
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