特許
J-GLOBAL ID：200903095897208527
ひずみセンサおよびひずみ計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
波多野 久
, 関口 俊三
, 猿渡 章雄
, 古川 潤一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-003481
公開番号（公開出願番号）：特開2004-219105
出願日： 2003年01月09日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：
【課題】本発明は、上述した事情を考慮してなされたものであり、微小な試験片のひずみ量を高精度で計測することが可能であり、計測装置が小型なひずみセンサおよびひずみ計測方法を提供する。【解決手段】試験片のひずみ量を計測するひずみセンサにおいて、試験片のひずみ量を計測する部分に設置される超磁歪材料と、前記超磁歪材料の近傍に前記超磁歪材料と非接触状態で設置されて、前記超磁歪材料が前記試験片に追従して変形することにより発生する磁界の電磁誘導により電流を誘起するコイルと、前記電流の電流値を計測し、この電流値と既知の超磁歪材料のひずみ量と電流値との関係とから試験片のひずみ量を算出して出力する出力装置とから形成されたことを特徴とするひずみセンサ。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試験片のひずみ量を計測するひずみセンサにおいて、試験片のひずみ量を計測する部分に密着して設置される超磁歪材料と、前記超磁歪材料の近傍に前記超磁歪材料と非接触状態で設置されて、前記超磁歪材料が前記試験片に追従して変形することにより発生する磁界の電磁誘導により電流を誘起するコイルと、前記電流の電流値を計測し、この電流値と既知の超磁歪材料のひずみ量と電流値との関係とから試験片のひずみ量を算出して出力する出力装置とから形成されたことを特徴とするひずみセンサ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
2F063AA25
, 2F063CA09
, 2F063CA34
, 2F063DA05
, 2F063DC08
, 2F063GA06
, 2F063GA56
, 2F063GA79
