比較器のしきい値測定方法および比較器のしきい値測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：森哲也 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-153115
公開番号（公開出願番号）：特開平11-344541
出願日： 1998年06月02日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：

【要約】【課題】汎用性のある比較器しきい値測定手段を提供する。【解決手段】しきい値測定装置は、測定対象である比較器5に入力するための正弦波信号を発生する正弦波発生器10と、比較器5からの出力信号をフーリエ変換するフーリエ変換器20と、しきい値検出器30と、求めたしきい値を出力する出力部40とを有していて、さらに、しきい値検出器30は、ワークエリアや後述する正弦波テーブル310の記憶エリアとして機能する記憶部31と、しきい値の検出等の処理を行う処理部35とを備える。

請求項（抜粋）：

複数のしきい値を設定可能な比較器に設定されたしきい値を測定する方法であって、しきい値を設定しない状態で前記比較器に正弦波信号を入力してその出力信号のフーリエ変換結果の位相項を共通位相項とするステップと、複数のしきい値を設定した状態で前記比較器に前記正弦波信号を入力して各しきい値に対する出力信号のフーリエ変換結果の位相項をしきい値毎に求めるステップと、しきい値毎にその位相項と共通位相項とを減じた位相を求めるステップと、この求めた各位相に対応する前記正弦波信号の振幅を比較器に設定されたしきい値として出力するステップと、を含むことを特徴とする比較器のしきい値測定方法。

IPC (3件)：

G01R 31/316 , G01R 19/165 , G01R 31/00

FI (3件)：

G01R 31/28 C , G01R 19/165 A , G01R 31/00

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