特許
J-GLOBAL ID：200903095934193020
ランディング測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-090334
公開番号（公開出願番号）：特開平7-298314
出願日： 1994年04月27日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：
【要約】【目的】 多数の画素に対する電子ビームのランディングを、従来の測定装置に比して高速に測定することができるようにしたものである。【構成】 CPU21は、垂直走査毎に値が階段状に変化する駆動電流をコイル11に流す制御を行う。コイル11は、CRT1のネック部2に垂直方向の磁界を印加する。この結果、電子ビームが駆動電流の大きさに応じて水平方向にシフトされる。そして、CPU21は、切換スイッチ13〜A/D変換器26を介して受光素子12から供給される輝度の最大値を各画素毎に検出し、この最大値に対する駆動電流を補償電流として画素毎に検出する。また、この補償電流に単位駆動電流当たりの電子ビームの移動量を乗算して、ランディングのずれを画素毎に検出する。
請求項（抜粋）：
陰極線管のネック部に垂直方向の磁界を印加して、電子ビームを水平方向に偏向する磁界印加手段と、該磁界印加手段に階段状の駆動電流を供給する駆動手段と、上記陰極線管の画面上における任意の画素の輝度を測定するための受光手段と、該受光手段の出力に基づいて、出力が最大となる上記駆動手段の駆動電流を検出する制御手段とを備え、該制御手段で検出された駆動電流を、電子ビームを最適な位置にランディングさせる補償電流とすることを特徴とするランディング測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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