特許
J-GLOBAL ID:200903095962226341

物品を認識し検査するための方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 奥山 尚男 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-526237
公開番号(公開出願番号):特表2002-501636
出願日: 1997年12月08日
公開日(公表日): 2002年01月15日
要約:
【要約】本発明は、100A/mよりも大きな飽和磁界Hsを有する磁性粒子を含む保護物品(158)の信憑性を検査するための方法を提供する。本方法は、(a)一つ以上の基本周波数の交番磁界を生成するステップと、(b)検出されるべき物品(158)を前記磁界に当てるステップと、(c)前記磁性粒子の存在を示す、前記一つ以上の基本周波数の任意の特定の調波、または前記一つ以上の基本周波数の任意の線形結合及び前記調波の任意の線形結合に対しても、その存在について前記検出信号を検査するステップとから成る。本方法は、検出されるべき物品がセンサにきわめて近接する状態に置かれる取引場所において適用される。
請求項(抜粋):
100A/mより大きな飽和磁界Hsを有する磁性粒子を含む保護物品の信憑性を検査するための方法であって、 (a)一つ以上の基本周波数の交番磁界(alternating field)を生成するステップと、 (b)検出されるべき物品を前記磁界に当てるステップと、 (c)前記検出されるべき物品から発している検出信号を検出するステップと、 (d)前記磁性粒子の存在を示す、前記一つ以上の基本周波数の任意の特定の調波、または前記一つ以上の基本周波数の任意の線形結合及び前記調波の任意の線形結合に対しても、その存在について前記検出信号を検査するステップと、から成ることを特徴とする方法。

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