特許

J-GLOBAL ID：200903096048007719

質量分析システム

発明者： 加藤 裕志 ,  田中 一夫
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (1件)： 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-152788
公開番号（公開出願番号）：特開平11-344482
出願日： 1998年06月02日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：

【要約】【課題】 保持時間を計算して、計算した保持時間を用いて異性体アサインメントを行い、ミスアサインメントを防止する。【解決手段】 化合物を時間的に分離するクロマトグラフィ1と、特定イオンを選択して該クロマトグラフィにより時間的に分離したSIMクロマトグラムを測定する質量分析計2と、前記測定SIMクロマトグラムに基づき内部標準化合物を用いて保持時間を補正する補正曲線を求め、該補正曲線から定量化合物の各異性体の計算保持時間を求め異性体ピークをアサインし定量計算を行うデータ処理手段3とを備え、複数の同一質量数の異性体をもつ化合物を定量分析する。さらに出力手段5を備え、前記測定SIMクロマトグラムと前記各異性体の計算保持時間のクロマトグラムパターンを出力する。

請求項（抜粋）：

複数の同一質量数の異性体をもつ化合物を定量分析する質量分析システムであって、化合物を時間的に分離するクロマトグラフィと、特定イオンを選択して該クロマトグラフィにより時間的に分離したSIMクロマトグラムを測定する質量分析計と、前記測定SIMクロマトグラムに基づき内部標準化合物を用いて保持時間を補正する補正曲線を求め、該補正曲線から定量化合物の各異性体の計算保持時間を求め異性体ピークをアサインし定量計算を行うデータ処理手段とを備えたことを特徴とする質量分析システム。

IPC (4件)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ZAB ,  G01N 30/04 ,  G01N 30/86

FI (4件)：

G01N 30/72 A ,  G01N 27/62 ZAB C ,  G01N 30/04 P ,  G01N 30/86 F