特許

J-GLOBAL ID：200903096066424114

2次元配光分布測定装置及び2次元配光分布測定用光学系

発明者： 橋村 淳司 ,  奥平 定男
出願人/特許権者： ミノルタ株式会社
代理人 (1件)： 佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-073471
公開番号（公開出願番号）：特開平9-264782
出願日： 1996年03月28日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：

【要約】【課題】高精度のフォーカシングを容易に行うことができる2次元配光分布測定装置と、広画角で被測定範囲が広い2次元配光分布測定用光学系を提供する。【解決手段】被測定物1が前側焦点F位置付近に配置される第1光学系Gr1、第1光学系Gr1の後側焦点F’面上に生じた被測定物1の配光分布像I1を再結像させる第2光学系Gr2、配光分布像I2を撮像する第1撮像部2、第1光学系Gr1通過後の光束を分岐させるミラーM1、分岐された光束を反射させるミラーM2,ミラーM1で分岐されミラーM2で反射された光束を結像させることにより被測定物1の像I3を形成する第3光学系Gr3、像I3を撮像する第2撮像部3、を設けた。

請求項（抜粋）：

被測定物が前側焦点位置付近に配置される第1光学系と、該第1光学系の後側焦点面上に生じた前記被測定物の配光分布像を再結像させる第2光学系と、前記再結像された配光分布像を撮像する第1撮像部と、前記第1光学系通過後の光束を分岐させる光束分岐手段と、該光束分岐手段によって分岐された光束を結像させることにより前記被測定物の像を形成する第3光学系と、前記被測定物の像を撮像する第2撮像部と、を備えたことを特徴とする2次元配光分布測定装置。

IPC (3件)：

G01J 1/00 ,  G02B 13/22 ,  G02F 1/13 101

FI (3件)：

G01J 1/00 E ,  G02B 13/22 ,  G02F 1/13 101