特許
J-GLOBAL ID:200903096089417581

電池端子の位置ずれ検査法およびその検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 須山 佐一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-176324
公開番号(公開出願番号):特開平8-045494
出願日: 1994年07月28日
公開日(公表日): 1996年02月16日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 煩雑な操作なども要せずに容易、かつ高精度に板状封口体に対する電極端子の位置ずれを検査し得る方法と装置。【構成】 板状封口体を貫挿・突出した電池端子を備えて成る電子端子部1の、前記電池端子の位置ずれ検査法であって、前記板状封口体の対向する辺をそれぞれ固定面に対接させ、板状封口体辺-電池端子側面間の距離を測定した結果を基準値と比較して位置ずれの有無を判定する、電子端子の位置ずれ検査法。
請求項(抜粋):
板状封口体を貫挿・突出した電池端子を備えて成る電池端子部の、前記電池端子の位置ずれ検査法であって、前記板状封口体の対向する辺をそれぞれ固定面に対接させ、板状封口体辺-電池端子側面間の距離を測定した結果を基準値と比較して位置ずれの有無を判定することを特徴とする電池端子の位置ずれ検査法。
IPC (2件):
H01M 2/30 ,  H01M 10/04
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 物体の形状の検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-095970   出願人:新日本製鐵株式会社
  • 特開平4-082132
  • 特開平4-082132

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