特許

J-GLOBAL ID：200903096100022179

計測異常検出方法

発明者： 坪田 浩治
出願人/特許権者： 日新電機株式会社
代理人 (1件)： 藤田 龍太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-103497
公開番号（公開出願番号）：特開平9-265318
出願日： 1996年03月28日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】較正のずれやセンサ窓の汚れ等検出状態の劣化による計測異常の発生を、各センサの出力が計測範囲内にある場合でも自動的に検出できるようにする。【解決手段】各センサの計測信号Xkの単位時間の変化量の絶対値をくり返し求め、その値からしきい値を用いて変化量ΔXkを1もしくは0と2値化して求める。ΔXkのk=1...nの総和をY1として求め、(ΔXk・F)/Fのk=1...nの総和をY2として求める(ただし、Fは(ΔXmのm=1...nの総和)-ΔXk)。Y1が0にならず、かつ、Y2が0になるときに、ΔXkが1であるセンサを測定異常が発生したセンサとして検出する。

請求項（抜粋）：

複数のアナログ状態変化に相関性があるプロセスの複数のセンサの計測信号Xk(=X1 ,X2 ,...,Xn)の単位時間の変化量(絶対値)ΔXk(=ΔX1 ,ΔX2 ,...,ΔXn)をくり返し求め、変化量ΔXkそれぞれにつき、変化の有無の判定のしきい値Ak(=A1 ,A2 ,...,An )との比較に基づき、ΔXk≦Akの変化量ΔXkを変化無しを示す0にし、ΔXk>Akの変化量ΔXkを変化有りを示す1にして2値化し、2値化後の変化量ΔXkに基づき、つぎの第1,第2の判定式Y1 ,Y2 を演算し、【数1】【数2】第1の判定式Y1 が0にならず、かつ、第2の判定式Y2 が0になるときに、変化量ΔXkが1のセンサを測定異常が発生したセンサとして検出することを特徴とする計測異常検出方法。

IPC (3件)：

G05B 23/02 302 ,  G05B 23/02 ,  G01D 21/00

FI (3件)：

G05B 23/02 302 Y ,  G05B 23/02 302 T ,  G01D 21/00 M