特許

J-GLOBAL ID：200903096175821875

撮像装置並びに固体撮像素子の画素欠陥検出装置及び方法

発明者： 西脇 和彦
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-094156
公開番号（公開出願番号）：特開2000-287135
出願日： 1999年03月31日
公開日（公表日）： 2000年10月13日
要約：

【要約】【課題】 固体撮像素子の黒欠陥の画素位置を簡便に且つ正確に検出して、検出した黒欠陥の補間をする。【解決手段】 CCDイメージセンサに均一の明るさの撮像光を照射し、その撮像光を光学的な低域通過フィルタを用いてぼかす。続いて、そのときの画素データをメモリ上に取り込む。そして、CCDイメージセンサから得られた撮像データを所定の閾値と比較して、この撮像データがこの所定の閾値以下となっている画素アドレスを検出する。

請求項（抜粋）：

撮像光を取り込み撮像信号に変換する固体撮像素子と、上記固体撮像素子が取り込む上記撮像光を光学的な低域通過フィルタを用いてぼかす光学手段と、上記固体撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値と比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる上記固体撮像素子の画素位置を検出する黒欠陥検出手段と、上記黒欠陥検出手段が検出した上記画素位置を記憶する記憶手段と、上記記憶手段が記憶した上記画素位置を読み出し、上記固体撮像素子の上記画素位置から得られる撮像信号を補間する補間手段とを備え、上記黒欠陥検出手段は、上記光学手段によりぼかされた均一の明るさの撮像光を取り込んだときの上記固体撮像素子から得られる撮像信号に基づき画素位置を検出することを特徴とする撮像装置。

IPC (2件)：

H04N 5/335 ,  H01L 27/14

FI (2件)：

H04N 5/335 P ,  H01L 27/14 Z

Fターム (20件)：

4M118AA07 ,  4M118AA09 ,  4M118AB01 ,  4M118BA10 ,  4M118FA06 ,  4M118GC07 ,  4M118GD02 ,  5C024AA03 ,  5C024AA18 ,  5C024BA01 ,  5C024CA09 ,  5C024DA01 ,  5C024EA08 ,  5C024FA01 ,  5C024GA11 ,  5C024HA08 ,  5C024HA12 ,  5C024HA14 ,  5C024HA18 ,  5C024HA23

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 電子カメラ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-328475   出願人：コニカ株式会社
• 撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-190080   出願人：ソニー株式会社
• 固体撮像素子の欠陥画素検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-174372   出願人：日立電子株式会社
• 特開昭62-029395