特許
J-GLOBAL ID:200903096183617780

X線断層撮影方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-139180
公開番号(公開出願番号):特開平8-322831
出願日: 1995年06月06日
公開日(公表日): 1996年12月10日
要約:
【要約】【目的】 断層像を形成しようとする断面に対し傾いて照射されたX線によって収集されたX線透過データから被検体の断層像を再構成するに当たり、品質の良い画像が得られるX線断層撮影方法および装置を実現することである。【構成】 X線照射手段1と、被検体の体軸方向に並ぶ複数の検出器列を有するX線検出手段2と、X線発生手段1とX線検出手段2を被検体200の周りを相対的に螺旋状に回転させる回転手段と、断層像を形成しようとする断面に対する前記X線の傾きを反映させて前記被検体の断層像を形成する断層像形成手段500とを具備する。
請求項(抜粋):
測定空間にX線を照射し、前記測定空間に配置された被検体を透過して入射するX線をX線検出器で検出し、前記X線の焦点を前記被検体の周りを回転させ、回転軌道上の複数の位置で得られるX線検出信号に基づいて前記被検体の断層像を形成するX線断層撮影方法において、断層像を形成しようとする断面に対する前記X線の傾きを反映させて前記被検体の断層像の形成を行なうことを特徴とするX線断層撮影方法。
IPC (2件):
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 321
FI (2件):
A61B 6/03 350 R ,  A61B 6/03 321 N

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