特許
J-GLOBAL ID：200903096187914534
試料のイオン化および質量分析のための装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-291459
公開番号（公開出願番号）：特開平9-119915
出願日： 1990年04月18日
公開日（公表日）： 1997年05月06日
要約：
【要約】【課題】安定な試料のイオン化が可能な試料のイオン化装置及び質量分析装置を提供することにある。【解決手段】試料を噴霧することにより霧化し、霧化した試料をイオン化するに際して、試料が噴霧される空間を囲み、この噴霧空間に外部から気体を強制的に導くように構成する。
請求項（抜粋）：
試料を霧化する手段と、その霧化した試料をイオン化するコロナ放電電極とを備えた試料のイオン化装置であって、前記試料霧化手段は前記試料が噴霧される空間を囲む部材と、その噴霧空間に気体を外部から強制的に導く手段とを備えていることを特徴とする試料のイオン化装置。
IPC (4件)：
G01N 27/62
, H01J 27/08
, H01J 37/08
, H01J 49/42
G01N 27/62 C
, G01N 27/62 G
, H01J 27/08
, H01J 37/08
, H01J 49/42
