特許

J-GLOBAL ID：200903096207566279

超音波検査装置

発明者： 白井 隆 ,  宮路 勝善 ,  冨田 禎久 ,  森田 輝 ,  遠藤 市夫 ,  水野谷 一
出願人/特許権者： 日立建機株式会社
代理人 (1件)： 梶山 佶是 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-120980
公開番号（公開出願番号）：特開平6-308103
出願日： 1993年04月23日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】多品種混在のワークについても効率良く検査を行うことができる超音波検査装置を実現する。【構成】材質及び厚さを基準とする複数区分の何れかに対応し材質及び厚さが既知のマスターワーク11〜19と、各マスターワークの対応区分に測定条件データ及び調整条件データを対応づけるテーブル43と、を備え、実ワーク1の対応区分が直前の検査での区分と異なり且つテーブル43内にあれば、テーブル43によってこの区分に対応づけられている測定条件データ及び調整条件データで、対応するマスターワークを超音波測定して測定感度の調整をする。

請求項（抜粋）：

被検体を超音波測定により検査する超音波検査装置において、材質及び厚さが既知であって材質及び厚さを基準とする複数区分の何れかの区分に対応づけられた1以上の較正用測定物と、前記較正用測定物のそれぞれを超音波測定して測定感度の調整をするときの測定条件データ及び調整条件データを前記較正用測定物のそれぞれの対応区分に対応づけるテーブルと、を備え、前記複数区分のうちで前記被検体に対応する区分が直前の検査での区分と異なり且つ前記被検体の対応区分が前記テーブル内にあれば、前記被検体の対応区分に前記テーブルによって対応づけられる測定条件データ及び調整条件データで、前記較正用測定物のうち対応する物を超音波測定して測定感度の調整を行うことを特徴とする超音波検査装置。