印字装置、偏差テストパターンの印字方法及びこの方法又は前記装置で印字された偏差テストパターン

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-074046
公開番号（公開出願番号）：特開平8-324012
出願日： 1996年03月28日
公開日（公表日）： 1996年12月10日
要約：

【要約】【課題】用紙上で重ねられる複数の画像の印字位置相互のずれを、容易かつ高精度で測定可能にして、自動的に解消する。【解決手段】画像を重ねて印字可能に配置されるイエロー、マゼンタ、シアン及びブラックの印字ユニットのうちの1基準印字ユニットにより、主走査方向において30ドットのピッチで並べられる複数の目盛バーを持つ基準スケールを有し、さらに、基準印字ユニット以外の印字ユニットにより、この基準スケールに隣接して並列に印字され主走査方向において29ドット又は31ドットのピッチで並べられる目盛バーを持つ差分スケールを有する偏差テストパターンを印字するもの。

請求項（抜粋）：

画像を重ねて印字可能に配置される複数の印字ユニットと、画像を重ねて印字するためにこれら印字ユニットを制御する印字制御回路とを備え、前記印字制御回路は、テストモードにおいてこれら印字ユニットのうちの1基準印字ユニットを制御して1偏差測定方向においてピッチMで並べられる複数の目盛バーを持つ基準スケールを印字させ、前記基準印字ユニット以外の印字ユニットを制御して前記1偏差測定方向においてピッチMから僅かに異なるピッチNで並べられる目盛バーを持つ差分スケールを前記基準スケールに隣接して並列に印字させ、前記基準スケール及び前記差分スケールとにより偏差テストパターンを得るテスト制御回路を有することを特徴とする印字装置。

IPC (5件)：

B41J 2/325 , B41J 5/30 , B41J 35/16 , H04N 1/40 , H04N 1/46

FI (5件)：

B41J 3/20 117 C , B41J 5/30 C , B41J 35/16 D , H04N 1/40 101 Z , H04N 1/46 Z

引用特許：

出願人引用 (7件)

特開平4-153053
特開昭61-031276
特開平2-060785

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審査官引用 (3件)

特開平4-153053
特開昭61-031276
特開平2-060785

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