特許

J-GLOBAL ID：200903096250927307

検査対象部品決定装置、プログラムおよび方法

発明者： 中川 洋光
出願人/特許権者： 株式会社リコー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-057711
公開番号（公開出願番号）：特開2003-258499
出願日： 2002年03月04日
公開日（公表日）： 2003年09月12日
要約：

【要約】【課題】 検査工程の特性に応じて、検査対象となる部品が適切な検査工程で検査されるようにするための検査対象部品決定装置、決定プログラムおよび方法を提供する。【解決手段】 検査工程の特性情報を入力する工程情報入力部2と、各検査工程ごとに検査項目と該検査項目で検査可能な対象部品とを入力する検査内容入力部1と、複数の検査工程において重複して検査可能な部品および検査項目の有無を判定する重複検査判定部3と、各検査工程における検査項目の検査対象部品を決定する対象部品決定部4と、検査工程における検査項目の検査対象部品の情報を出力する検査対象出力部5とで構成している。

請求項（抜粋）：

電子部品の実装状態の良否判定にあたり、複数の検査工程を有する電子回路基板作成工程における検査対象部品の決定装置であって、検査工程の特性情報を入力する工程情報入力部と、各検査工程ごとに検査項目と該検査項目で検査可能な対象部品とを入力する検査内容入力部と、複数の検査工程において重複して検査可能な部品および検査項目の有無を判定する重複検査判定部と、各検査工程における検査項目の検査対象部品を決定する対象部品決定部と、検査工程における検査項目の検査対象部品の情報を出力する検査対象出力部とからなり、前記対象部品決定部は、複数の検査工程の検査項目で重複して検査される検査対象部品を、前記工程情報入力部で入力された特性情報に基づき、所定の順序で検査項目から削除することを特徴とする検査対象部品決定装置。