特許
J-GLOBAL ID：200903096314519178
検査ヘッド
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-097885
公開番号（公開出願番号）：特開平6-018556
出願日： 1993年04月23日
公開日（公表日）： 1994年01月25日
要約：
【要約】【目的】 半導体装置をテストするオープントップソケットの導通チェックを行うのに、コンタクトピンと接触子との接触が、コンタクトピンの高さが不揃いでも確実に、かつスムーズに得られる検査ヘッドを提供する。【構成】 ソケット1のコンタクトピン3に接触する接触子12を、ホルダ16に形成したブラケット14内で圧縮バネ13を介してスライド自在に保持し、バネ力で接触子12をコンタクトピン3に圧接して接触せしめる構成としたことを特徴としている。
請求項（抜粋）：
複数の接触子を備え、オープントップソケットに備えられた複数のコンタクトピンに前記各接触子をそれぞれ接触せしめて導通チェックを行う検査ヘッドにおいて、前記各接触子がそれぞれのコンタクトピンに弾性を有して接触するように前記各接触子に弾性手段を具備せしめたことを特徴とする検査ヘッド。
IPC (3件)：
G01R 1/067
, G01R 1/073
, G01R 31/02
