特許

J-GLOBAL ID：200903096315940985

モンテカルロ・シミュレーション設計方法

発明者： ハワード・リンカーン・ヘック ,  ジョン・スティーヴン・クレスゲ
出願人/特許権者： インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
代理人 (1件)： 頓宮 孝一 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-271816
公開番号（公開出願番号）：特開平5-233592
出願日： 1992年10月09日
公開日（公表日）： 1993年09月10日
要約：

【要約】【目的】個々の部品の分散の源を分析し、その結果得られる個々の部品の分散をモデル化し、個々の部品の分散データを使用して、完成アセンブリのはめ合いと公差設定の分布をモデル化する。【構成】部品機能要素A、B、C、Dの測定値の平均値μと、時間依存平均値μに関する部品機能要素測定値の標準分布は、1製造ランにわたる不変量ではなく、時間の経過とスループットの変化に伴ってシフトする。これらの「シフト」または「調節」されたパラメータ群を、モンテカルロ・シミュレーションで使用して、各出力分布の個々の点x(i)、y(i)、z(i)の離散値を決定する。モンテカルロ・シミュレーションの第2段で、出力分布の個々の点x(i)、y(i)、z(i)を組み合わせて個々のアセンブリ最終はめ合いF(x(i),y(i),z(i))を作る。その後、個々のアセンブリ最終はめ合いの統計値を、製造仕様と比較する。

請求項（抜粋）：

各部品がその値の分布付きのパラメータを有する多数部品アセンブリを、事前に設定された組立公差の範囲内で組み立てる方法であって、a.個々の部品のパラメータの統計分布を決定するステップと、b.個々の部品のパラメータの前記統計分布に基づいて個々の多数部品アセンブリ内の個々の部品のはめ合い公差を決定するステップとを含む方法。

IPC (3件)：

G06F 15/20 ,  G06F 15/36 ,  B23P 21/00 307