特許

J-GLOBAL ID：200903096385936535

被検眼計測装置

発明者： 畑中英樹
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-124977
公開番号（公開出願番号）：特開平5-317257
出願日： 1992年05月18日
公開日（公表日）： 1993年12月03日
要約：

【要約】【目的】 被検眼の眼内寸法の測定の迅速化、測定精度のより一層の向上を図ることのできる被検眼計測装置を提供する。【構成】 被検眼103にコヒーレント長の短い光束を投光する測定用光源130を備えた投光光学系を有し、前記被検眼103への投光により得られた干渉縞を観察することにより、被検眼103の第1測定対象面から第2測定対象面までの眼内寸法を計測する被検眼計測装置において、前記投光光学系101に被検眼を固視させるための固視用光学系を設け、該固視用光学系の光軸が前記投光光学系101の光軸と同軸であることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

被検眼にコヒーレント長の短い光束を投光する測定用光源を備えた投光光学系を有し、前記被検眼への投光により得られた干渉縞を観察することにより、被検眼の第1測定対象面から第2測定対象面までの眼内寸法を計測する被検眼計測装置において、前記投光光学系に被検眼を固視させるための固視用光学系を設け、該固視用光学系の光軸が前記投光光学系の光軸と同軸であることを特徴とする被検眼計測装置。

FI (2件)：

A61B 3/10 Z ,  A61B 3/10 R

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平4-035637
  
• 検眼装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-038583   出願人：キヤノン株式会社