特許
J-GLOBAL ID：200903096389161090

光散乱測定プローブ

発明者：
筒井 和典

筒井 和典 について

, 
水口 勉

水口 勉 について


出願人/特許権者：
大塚電子株式会社

大塚電子株式会社 について


代理人 (1件)： 亀井 弘勝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-057202
公開番号（公開出願番号）：特開2002-257706
出願日： 2001年03月01日
公開日（公表日）： 2002年09月11日
要約：
【要約】【課題】広い濃度範囲において、精度のよい、かつ信頼性の高い散乱光強度測定を行うことのできる、製造容易な光散乱測定プローブを実現する。【解決手段】試料に照射する光を伝播するための入射用光ファイバ4と、散乱光を集めて伝搬するための散乱光測定用光ファイバ6とを挿入し、光散乱測定プローブ内において、両光ファイバ4,6の端面に、光ファイバの光を平行にするための中間レンズ36,37をそれぞれ設置し、前記平行にされた各光を同一の集光点に結ぶための単一の集光レンズ38を配置し、前記集光レンズ38の集光点は、光散乱測定プローブの開口面よりも外部に位置している。
請求項（抜粋）：
試料に光を照射し、散乱体積内から散乱される光を検出することにより光散乱測定を行う光散乱測定プローブであって、光散乱測定プローブに、試料に照射する光を伝播するための入射用光ファイバと、散乱光を集めて伝搬するための散乱光測定用光ファイバとを挿入し、光散乱測定プローブ内において、両光ファイバの端面に、光ファイバの光を平行にするための中間レンズをそれぞれ設置し、前記平行にされた各光を同一の集光点に結ぶための単一の集光レンズを配置していることを特徴とする光散乱測定プローブ。
IPC (3件)：
G01N 15/02 ,  G01B 11/08 ,  G01N 21/51
FI (3件)：
G01N 15/02 A ,  G01B 11/08 Z ,  G01N 21/51
Fターム (18件)：
2F065AA26 ,  2F065BB07 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065HH02 ,  2F065JJ00 ,  2F065JJ17 ,  2F065LL02 ,  2G059AA02 ,  2G059BB06 ,  2G059EE02 ,  2G059FF07 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK02 ,  2G059LL04
引用特許：
審査官引用 (5件)
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