特許
J-GLOBAL ID:200903096545329363
粒子微細化装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
中倉 和彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-182784
公開番号(公開出願番号):特開2003-001079
出願日: 2001年06月18日
公開日(公表日): 2003年01月07日
要約:
【要約】【目的】 部品の損耗を抑えることができる粒子微細化装置を提供することにある。【構成】 ほぼ同一直線上にあって、出口が接近対向するように配置された2つの流路8a,8aと、該流路のいずれかの位置に設けられ該流路より小さい径の貫通孔9,9と、を有し、一方の貫通孔9から噴射された液体が他方の貫通孔9に届かないように配置した。
請求項(抜粋):
ほぼ同一直線上にあって、出口が接近対向するように配置された2つの流路と、該流路のいずれかの位置に設けられ該流路より小さい径の貫通孔と、を有し、一方の貫通孔から噴射された液体が他方の貫通孔に届かないように配置したことを特徴とする粒子微細化装置。
IPC (4件):
B01F 5/06
, B01F 3/08
, B01F 3/12
, B02C 19/06
FI (4件):
B01F 5/06
, B01F 3/08 A
, B01F 3/12
, B02C 19/06 A
Fターム (6件):
4D067CA01
, 4D067CA05
, 4D067GA20
, 4G035AB40
, 4G035AC26
, 4G035AE13
引用特許:
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