特許

J-GLOBAL ID：200903096632358337

デバイス試験診断システム及びそのデバイス試験診断方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体

発明者： 吉岡 紫
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： ▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-072981
公開番号（公開出願番号）：特開2000-267950
出願日： 1999年03月18日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】 システムの運用に影響を与えずに入出力装置の試験診断を行えるデバイス試験診断システムを提供する。【解決手段】 デバイス5-nが組込まれた場合、デバイス5-nから新しくデバイスが組込まれたというメッセージが入出力制御装置4-1に送られてくる。メッセージを受取ったデバイスドライバ部45-1は試験実行部44-1を起動する。試験実行部44-1は試験対象装置であるデバイス5-nから試験プログラムをメモリ42-1へロードし、試験プログラムに基づいて試験を実行する。試験実行時に要求されるデバイス5-nに対する入出力処理はデバイスドライバ部45-1を介して実行される。デバイス5-nからの入出力処理の終了メッセージはデバイスドライバ部45-1が受取り、試験実行部44-1に渡す。試験の結果はメッセージ送受信部43-1を介してOSのカーネル部へ渡される。

請求項（抜粋）：

複数のデバイスと、前記デバイスへの入出力処理を制御する複数の入出力制御装置と、中央処理装置とを含むデバイス試験診断システムであって、前記中央処理装置の代りに前記デバイスの制御を行う手段を前記複数の入出力制御装置各々に有することを特徴とするデバイス試験診断システム。

IPC (3件)：

G06F 13/00 301 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 370

FI (3件)：

G06F 13/00 301 V ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 11/22 370 A

Fターム (9件)：

5B048AA08 ,  5B048DD01 ,  5B083AA04 ,  5B083BB06 ,  5B083CE03 ,  5B083DD11 ,  5B083DD13 ,  5B083EE07 ,  5B083GG04

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭64-014650
  
• 特開昭64-014650