特許
J-GLOBAL ID：200903096638730300
電位測定装置及び画像形成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-092212
公開番号（公開出願番号）：特開2004-301554
出願日： 2003年03月28日
公開日（公表日）： 2004年10月28日
要約：
【課題】小型化、高性能化、高機能化、高信頼性化するのに優れ、微粒子などによる汚染の影響を受け難い構造を容易に構成できる電位測定装置を提供することである。【解決手段】電位測定装置は、被測定物120と対向して配置される信号検知電極101と、、誘電体の第1の固体材料部111とこれとは異なる比誘電率を有する材料または導電性材料の第2の固体材料部110から構成されたシート状構造体と、電極101と被測定物120の間でシート状構造体を移動する駆動機構112を有する。駆動機構112でシート状構造体を移動して、被測定物120からの電気力線で誘起される電極101上の電荷量を変調し被測定物120の電位を測定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定物と対向させて配置される導電性材料からなる信号検知電極と、該電極の被測定物側の近傍に来る様に配置されて、誘電体からなる第1の固体材料部と該第1の固体材料とは異なる比誘電率を有する材料または導電性材料からなる第2の固体材料部から構成された移動可能なシート状の構造体と、前記信号検知電極と被測定物との間において前記第1の固体材料部と第2の固体材料部の該電極に対する位置関係が変わる様に該シート状構造体を移動するための駆動機構を有し、該駆動機構でシート状構造体を移動することで、被測定物から放出される電気力線によって誘起される前記電極上の電荷量を変調して被測定物の電位を測定することを特徴とする電位測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (1件)：
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