特許
J-GLOBAL ID：200903096638891517
部品の品質検査方案作成システムの実験方案作成方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 剛宏 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-209239
公開番号（公開出願番号）：特開平6-060198
出願日： 1992年08月05日
公開日（公表日）： 1994年03月04日
要約：
【要約】【目的】部品の品質検査方案作成システムによって品質検査方案の実験方案を作成する方法において、実験データのサンプリングを開始するタイミングおよびサンプリングを終了するタイミング等を、装置の操作に不慣れなオペレータでも容易、且つ、正確に設定することができる部品の品質検査方案作成システムの実験方案作成方法を提供する。【構成】部品の品質検査方案作成システムの実験方案作成方法では、CRTに表示されたI/F設定画面上でI/F回路を選択し、該I/F回路の入力条件をCRT上で設定する。次いで、CRTに表示された測定パターン設定画面上で測定方法の文章を選択して、該測定方法の文章に測定条件をCRT上で設定することにより、実験方案が作成される。従って、実験方案を容易に作成することができる。
請求項（抜粋）：
測定対象物から複数種類のデータをサンプリングし、該サンプリングデータに基づいて前記測定対象物の品質検査方案の実験方案を作成する部品の品質検査方案作成システムの実験方案作成方法において、測定対象物に設けられる複数の検出器に対応する複数のデータ入力手段を表示手段上で選択する第1のステップと、前記夫々の各データ入力手段の入力範囲および単位等からなる入力条件を表示手段上で選択する第2のステップと、前記夫々の各データ入力手段からデータを読み取るための測定パターンを夫々のデータ入力手段毎に表示手段上で選択する第3のステップと、前記測定パターンに対してサンプリングタイム等の測定条件を設定する第4のステップと、を備えることを特徴とする部品の品質検査方案作成システムの実験方案作成方法。
IPC (2件)：
G06F 15/74 310
, G01D 21/00
