光触媒塗布液及び蛍光X線分析を用いた光触媒層の膜厚測定・品質管理方法

発明者： , , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：塩出真一 , 塩出洋三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-082071
公開番号（公開出願番号）：特開2004-285290
出願日： 2003年03月25日
公開日（公表日）： 2004年10月14日
要約：

【課題】蛍光X線分析方法を用いて光触媒層の膜厚測定及び品質管理を行う。【解決手段】光触媒塗布液に、蛍光X線分析により検出可能であって、塗料塗膜成分元素、光触媒保護層成分元素、光触媒成分元素とは異なる元素(M)を含む化合物を含有させ、この光触媒塗布液により基材表面の塗料塗膜上に光触媒層を形成させて、光触媒層の膜厚測定、品質管理を蛍光X線分析によりM元素のX線強度値を測定することで行うことにより、塗料塗膜に光触媒の構成成分が含まれる場合であっても、M元素のX線強度値から光触媒層の膜厚を正確に測定することができ、光触媒層の品質管理も精度よく行える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光触媒と、蛍光X線分析により検出可能であって、該光触媒を構成する成分元素とは異なる元素(M)を含む化合物とを含有することを特徴とする光触媒塗布液。

IPC (3件)：

C09D1/00 , G01B15/02 , G01N23/223

FI (6件)：

C09D1/00 , G01B15/02 D , G01N23/223 , B01D53/36 J , B01D53/36 H , B01D53/36 G

Fターム (58件)：

2F067AA27 , 2F067BB19 , 2F067BB20 , 2F067DD04 , 2F067DD06 , 2F067EE03 , 2F067HH04 , 2F067JJ03 , 2F067KK01 , 2G001AA01 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001FA01 , 2G001KA11 , 2G001MA05 , 2G001NA04 , 2G001NA06 , 2G001NA07 , 2G001NA08 , 2G001NA12 , 2G001NA15 , 2G001NA17 , 4D048AA17 , 4D048AA22 , 4D048AB03 , 4D048BA07X , 4D048CC41 , 4D048DA02 , 4D048EA01 , 4G069AA03 , 4G069AA08 , 4G069BA04B , 4G069BA14B , 4G069BA48A , 4G069BB14A , 4G069BB14B , 4G069BC50B , 4G069CA17 , 4G069DA06 , 4G069EA08 , 4G069FA03 , 4G069FB23 , 4G069FC03 , 4J038AA01 , 4J038HA016 , 4J038HA046 , 4J038HA056 , 4J038HA066 , 4J038HA211 , 4J038HA216 , 4J038HA241 , 4J038HA246 , 4J038HA416 , 4J038HA476 , 4J038KA04 , 4J038NA05 , 4J038NA18 , 4J038NA27

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