特許
J-GLOBAL ID：200903096673015037
電子部品の選別装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-219208
公開番号（公開出願番号）：特開平9-061492
出願日： 1995年08月28日
公開日（公表日）： 1997年03月07日
要約：
【要約】【目的】 電子部品の電気的特性の測定を精度良く、かつ高いスループットで実行する。【構成】 供給位置1a、検査位置1b、取出位置1cの各々に対応する位置に、それぞれ90度の間隔をおいて供給部2、検査部3、バッファ部4が配置された割り出しテーブル1と、エンボステープ7による梱包動作を行う梱包部5との間にバッファ部4を配置し、割り出しテーブル1の回動動作によって供給位置1a、検査位置1b、取出位置1cの各々を移動する間に、検査部3によって電子部品6の検査を個別に実行するとともに、検査済の電子部品6をバッファ部4に蓄積し、このバッファ部4から梱包部5に検査済の電子部品6を供給する。割り出しテーブル1(検査部3)側および梱包部5の側のいずれの故障でもバッファ部4の緩衝作用によって装置全体が停止しない。
請求項（抜粋）：
電子部品を個別に測定する測定部と、測定済の複数の前記電子部品が収容されるバッファ部と、前記バッファ部から取り出した前記電子部品を梱包する梱包部とからなることを特徴とする電子部品の選別装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01R 31/26 Z
, G01R 31/26 C
, B65B 15/04 N
