特許

J-GLOBAL ID：200903096745896017

電子器具における測定精度を改善するための方法および測定精度が高められた電子器具

発明者： エリック・アール・リトル ,  スティーブン・ディ・スウィフト ,  グレッグ・エス・ギブソン
出願人/特許権者： フルーク・コーポレイション
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-014215
公開番号（公開出願番号）：特開平9-214291
出願日： 1997年01月28日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：

【要約】【課題】 適応型ディジタルフィルタを用いて電気器具における測定精度を改善するための方法を提供する。【解決手段】 測定段階の間アナログディジタル変換器(116)はフロントエンド回路(114)を通して受け取られた入力信号(112)を一続きの測定値に変換する。一続きの測定値はその後適応型ディジタルフィルタ(117)に与えられ、この適応型ディジタルフィルタ(117)はそれらの測定値を数学的に演算して、較正段階の間得られた1組のディジタルフィルタ値を用いて時間領域における畳み込みのプロセスでフロントエンド回路(114)の周波数応答による影響を取除く。適応型ディジタルフィルタ(117)を加えることによりフロントエンド回路(114)の周波数応答の要件が軽減されるため、より少ないコンポーネントを有し、かつ手動での調整を必要としない簡単なフロントエンド回路(114)を電子器具(110)に用いることができる。

請求項（抜粋）：

電子器具における測定精度を改善するための方法であって、較正段階の間、既知の振幅特性および周波数特性を有する較正信号をフロントエンド回路に結合するステップと、較正段階の間、前記フロントエンド回路を通して前記較正信号を受け取り、かつ評価信号を形成する一続きの較正測定値を発生するオーバーサンプリングアナログディジタル変換器によって前記較正信号を測定するステップと、1組のディジタルフィルタ値を最適化して、前記較正信号と前記評価信号との全体的な差を最小にするステップと、測定段階の間前記較正信号を、測定される入力信号と置換えるステップと、前記入力信号を前記フロントエンド回路を通して受け取りかつ一続きの測定値を発生する前記オーバーサンプリングアナログディジタル変換器によって、前記入力信号を測定するステップと、前記ディジタルフィルタ値を用いて適応型ディジタルフィルタによって前記測定値をディジタル的にフィルタ処理して、正規化された測定値を得るステップとを含む、方法。

IPC (4件)：

H03H 17/06 613 ,  H03H 17/02 681 ,  H03H 17/02 ,  H03H 21/00

FI (4件)：

H03H 17/06 613 J ,  H03H 17/02 681 A ,  H03H 17/02 681 B ,  H03H 21/00

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平3-238361