特許
J-GLOBAL ID:200903096771623754
高分子材料の密度測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
久保田 耕平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-147597
公開番号(公開出願番号):特開2002-340792
出願日: 2001年05月17日
公開日(公表日): 2002年11月27日
要約:
【要約】【課題】 従来の中赤外線スペクトル、核磁気共鳴(NMR)スペクトル等を測定する方法に比して、より簡便、且つ迅速な高分子材料の密度測定方法及び該密度測定方法を利用する高分子材料廃棄物のリサイクル方法を提供する。【解決手段】 密度測定対象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定し、近赤外線スペクトルデータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法(ニューラルネットワーク、主成分分析法等)を適用し、データ解析手法で取得された情報に基づいて高分子材料の密度を測定する。また、高分子材料のリサイクル方法において上記密度測定方法を用いてリサイクルに供する高分子材料廃棄物を判別する。
請求項(抜粋):
密度測定対象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定し、該近赤外線スペクトルのデータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法を適用し、該データ解析手法で取得された情報に基づいて該高分子材料の密度を測定することを特徴とする高分子材料の密度測定方法。
Fターム (13件):
2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059BB15
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ01
, 2G059JJ18
, 2G059MM03
, 2G059NN01
引用特許: