特許

J-GLOBAL ID：200903096784690620

フォトイオン分光計

発明者： ヤング、チャールズ イー ,  ペーリン、マイケル ジェイ ,  グルーエン、ディーター エム
出願人/特許権者： ユナイテッド ステイツ デパートメント オブ エナージィ
代理人 (1件)： 渡邉 勇 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-273396
公開番号（公開出願番号）：特開平10-172506
出願日： 1997年09月19日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 選択した原子コンポーネントの定量分析のための改良型の分光計を提供する。また、所定の電界をイオンに及ぼし、サンプルからの選択原子コンポーネントの検出感度を改良できるような、新規なイオン分光計を提供する。【解決手段】 予め決められた電界境界条件を形成する装置であって、その電界境界条件は電界手段から基本的に起因する所要の電界電位形状を達成するためのものであって、絶縁基材144と、電流を印加する手段と、上記絶縁基材上に予め選択された厚膜構造体148とからなり、その厚膜構造体は上記電界手段に結合され、上記厚膜構造体は選択された実質的に電気的に均一な抵抗特性の二次元的なパターンを選択された空間的なパターン領域に有し、前記厚膜構造体に印加する電流に応答して上記予め定められた電界境界条件を形成する。

請求項（抜粋）：

予め決められた電界境界条件を形成する装置であって、その電界境界条件は電界手段から基本的に起因する所要の電界電位形状を達成するためのものであって、絶縁基材と、電流を印加する手段と、上記絶縁基材上に予め選択された厚膜構造体とからなり、その厚膜構造体は上記電界手段に結合され、上記厚膜構造体は選択された実質的に電気的に均一な抵抗特性の二次元的なパターンを選択された空間的なパターン領域に有し、前記厚膜構造体に印加する電流に応答して上記予め定められた電界境界条件を形成することを特徴とする装置。

IPC (5件)：

H01J 49/06 ,  G01N 23/225 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/40

FI (5件)：

H01J 49/06 ,  G01N 23/225 ,  G01N 27/62 E ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/40