特許
J-GLOBAL ID:200903096796232830
分析物検定素子
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
足立 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-005911
公開番号(公開出願番号):特開平10-288616
出願日: 1990年09月18日
公開日(公表日): 1998年10月27日
要約:
【要約】【課題】分析物検出用の新規で有用な装置を提供する。【解決手段】本装置は、基材を被覆する1つ又はそれ以上の反射防止層と、受容物質と相互反応するために、活性化可能な材料からなる最上層と、分析物と相互反応可能な受容層とを含む。最上層の材料は、これに限定されないが、シリコン又はシリコン化合物を含む。これらの種々の材料は、化学的に活性化され、共有結合又は吸着又は所定のメカニズムにより、試料中の分析物を付着する。本装置は、試料中に分析物がある場合には、色調又は強度における視覚的変化を発現する。
請求項(抜粋):
表面上に固定した1以上の反射防止物質層をその表面上で支持する基材、及び分析物と相互反応の可能な分析物受容物質層表面上で支持する前記反射防止物質の最上層からなる分析物検知剤において、前記反射防止物質がある波長において反射が最小でほぼゼロとなるように選択された厚さ及び屈折率の組合せであり、これにより分析物検知の標識となる厚さの変化に対する検知能力が高められたことを特徴とする分析物検知剤。
IPC (10件):
G01N 33/543 595
, G01N 21/75
, G01N 33/483
, G01N 33/551
, G01N 33/552
, G01N 33/553
, G01N 33/566
, C12Q 1/00
, C12Q 1/04
, G01N 33/50
FI (10件):
G01N 33/543 595
, G01N 21/75 Z
, G01N 33/483 C
, G01N 33/551
, G01N 33/552
, G01N 33/553
, G01N 33/566
, C12Q 1/00 C
, C12Q 1/04
, G01N 33/50 P
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開昭63-078052
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特開昭61-132908
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特開昭63-277969
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