特許

J-GLOBAL ID：200903096832338810

相関二重サンプラの試験方法・試験装置

発明者： 神成 茂
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-273852
公開番号（公開出願番号）：特開2001-103519
出願日： 1999年09月28日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】 高速動作が要求される相関二重サンプラを安価な装置で試験することができる試験方法と、この試験方法を用いた試験装置を提案する。【解決手段】 差動増幅器17と、この差動増幅器の非反転入力端子と反転入力端子の双方に位相が異なるサンプリングクロックによってサンプリンク動作するサンプールホールド回路15,16とを具備し、このサンプールホールド回路にサンプールホールドしたサンプールホールド信号SBとSCの差を差動増幅器から取り出して出力する相関二重サンプラにおいて、サンプールホールド回路15と16の双方にサンプリングクロックの周波数より1/100程度低い周波数の連続波を印加してサンプールホールドさせ、その状態で出力端子18に周期性を持つ信号が出力されるか否かにより相関二重サンプラが正常に動作しているか否かを判定する。

請求項（抜粋）：

パルス変調波と所定レベルの電位信号とが所定の時間間隔で交互に入力され、パルス変調波と所定レベルの電位信号とを2個のサンプルホールド回路で交互にサンプルホールドし、そのサンプルホールド電圧の差を差動増幅器によって取り出すことにより、上記パルス変調波に重畳する変調信号を再現する相関二重サンプラを試験する場合において、上記2個のサンプルホールド回路に、これらサンプルホールド回路のサンプリング周波数の1/2より低い周波数と、上記サンプルホールド回路のダイナミックレンジに相当する振幅と、相互に同一位相と、同一波形を持つ信号を入力し、その差の出力がほぼゼロであるか否かにより、上記相関二重サンプラの良否を判定することを特徴とする相関二重サンプラの試験方法。

IPC (3件)：

H04N 17/00 ,  G01R 31/316 ,  H04N 5/335

FI (3件)：

H04N 17/00 K ,  H04N 5/335 P ,  G01R 31/28 C

Fターム (24件)：

2G032AA01 ,  2G032AB01 ,  2G032AD04 ,  5C024AA01 ,  5C024CA00 ,  5C024CA06 ,  5C024FA01 ,  5C024GA11 ,  5C024HA07 ,  5C024HA09 ,  5C024HA10 ,  5C024HA18 ,  5C061BB02 ,  5C061BB03 ,  5C061BB05 ,  9A001BB02 ,  9A001BB03 ,  9A001BB04 ,  9A001EE05 ,  9A001HH23 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK37 ,  9A001KK54 ,  9A001LL05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特開平1-176960
  

審査官引用 (1件)

• 特開平1-176960