特許
J-GLOBAL ID：200903096878786800
地盤表面の計測システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久門 知 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-214616
公開番号（公開出願番号）：特開平8-074238
出願日： 1994年09月08日
公開日（公表日）： 1996年03月19日
要約：
【要約】【目的】 地盤表面の締め固まり状態、特にソイルセメント工法の施工後の状態を簡易な方法でリアルタイムに計測する計測システムの提供。【構成】 γ線源および中性子線源および両線源より放射された放射線が地盤表面によって散乱されて戻ってくる散乱γ線、速中性子、熱中性子をそれぞれ計測する検出機器ならびにデータ処理機器を搭載した橇を地盤上を滑らせ、橇と地盤との間隙の測定値に基づいて、地盤表面の水分、密度の測定値の取捨選択・補正を行い、補正後の値に基づいて管理項目値を算出して表示、記録する。
請求項（抜粋）：
γ線源および中性子線源および両線源より放射された放射線が地盤表面によって散乱されて戻ってくる散乱γ線、速中性子、熱中性子をそれぞれ計測する検出機器ならびにデータ処理機器を搭載した橇を地盤上を滑らせ、橇と地盤との間隙の測定値に基づいて、地盤表面の水分、密度の測定値の取捨選択・補正を行い、補正後の値に基づいて管理項目値を算出して表示、記録することを特徴とする地盤表面の計測システム。
IPC (3件)：
E02D 1/00
, G01N 9/24
, G01N 33/24
