特許

J-GLOBAL ID：200903096881250996

目標測定装置

発明者： 菅野 崇
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-284411
公開番号（公開出願番号）：特開2002-092587
出願日： 2000年09月19日
公開日（公表日）： 2002年03月29日
要約：

【要約】【課題】この発明は、信頼性の高い高精度な画像解析を実現して、測定精度の向上を図り得るようにすることにある。【解決手段】撮像カメラ11で撮影したターゲット画像を平滑化処理して微分フィルタ処理して作業画像を生成し、この作業画像の中の明るさの変化が大きな場所を抽出して、その明るさの大きな場所に対応するターゲット画像の画素及び該画素の周囲の複数画素の中から最も明るい画素を選択して、その画素の平均値を閾値としてターゲット画像の二値化処理を行って画像データを生成し、この画像データに基づいて作業対象13の位置及び姿勢を算出するように構成したものである。

請求項（抜粋）：

目標物に設けられ、周囲と明るさの異なる少なくとも1個のマーカが設けられたターゲット部材と、前記目標物を追尾する移動体に設けられ、前記ターゲット部材を撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像したターゲット画像を平滑化処理を施した後、微分フィルタ処理を施して作業画像を生成して、この作業画像の明るさの変化が大きい場所を抽出し、この抽出した場所データに対応する前記ターゲット画像の画素及び該画素の周囲の複数画素の中から最も明るい画素をそれぞれ選択して、その最も明るい画素の平均値を閾値として前記ターゲット画像を二値化処理し、この二値化処理した画像データに基づいて前記目標物の少なくとも位置を算出する演算処理手段とを具備したことを特徴とする目標測定装置。

IPC (4件)：

G06T 1/00 280 ,  B64G 1/64 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/60 150

FI (4件)：

G06T 1/00 280 ,  B64G 1/64 Z ,  G01B 11/00 H ,  G06T 7/60 150 B

Fターム (27件)：

2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065BB27 ,  2F065CC00 ,  2F065FF04 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ33 ,  2F065UU05 ,  2F065UU09 ,  5B057AA14 ,  5B057BA02 ,  5B057BA11 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057CE12 ,  5B057DA07 ,  5B057DC08 ,  5B057DC22 ,  5L096BA08 ,  5L096CA02 ,  5L096EA06 ,  5L096EA43 ,  5L096FA32 ,  5L096FA69 ,  5L096GA51 ,  5L096GA55