特許
J-GLOBAL ID:200903096886616298
基板の外観検査方法および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
高田 幸彦 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-290978
公開番号(公開出願番号):特開2003-099758
出願日: 2001年09月25日
公開日(公表日): 2003年04月04日
要約:
【要約】【課題】プリント板に両面実装された部品の外観自動検査では、上面検査後に段取り替えをして下面検査をおこなうことが必要であった。また、部品の製作ロットの違いで、判定文字列の位置がずれた場合に、部品の検査データの修正作業が発生していた。本発明は、上面および下面の部品の検査を相互干渉なしで同時におこなうことが出来る検査方法および装置を提供することにある。【解決手段】スルーホール等を有し両面実装されたプリント基板に指定された部品が実装されているか否かを撮像画像に基づいて判定する外観検査方法であって、前記基板の上面撮像開始位置と下面撮像開始位置の座標位置が異なるように設定し、前記両面に実装された部品を上面および下面それぞれ独立に撮像し、前記上面および下面の部品を予め定められた順番で撮像し、対象部品上の印字文字を切り出し、予め記憶されている規定部品文字との比較をし、前記基板実装部品の正否の検査をおこなうことにある。
請求項(抜粋):
スルーホール等を有し両面実装されたプリント基板であって、前記基板の両面に実装された複数の検査対象部品を撮像し、指定された部品が正しく実装されているか否かを前記撮像画像に基づいて判定する外観検査方法において、前記基板上面の撮像開始位置と下面の撮像開始位置の座標位置が異なるように設定し、前記両面に実装された部品を上面および下面それぞれ独立に撮像し、前記上面および下面の部品を予め定められた順番で撮像し、対象部品上の印字文字を切り出し、予め記憶されている規定部品文字との比較をし、前記基板実装部品の正否の検査をおこなうことを特徴とする基板の外観検査方法。
IPC (3件):
G06T 1/00 305
, G01N 21/956
, G06T 7/00 300
FI (3件):
G06T 1/00 305 B
, G01N 21/956 B
, G06T 7/00 300 E
Fターム (23件):
2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051AC21
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051ED04
, 5B057AA03
, 5B057BA11
, 5B057BA15
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CE09
, 5B057DA03
, 5B057DA08
, 5B057DB02
, 5B057DC33
, 5L096BA03
, 5L096BA17
, 5L096CA02
, 5L096EA35
, 5L096HA07
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