特許

J-GLOBAL ID：200903096917255450

半導体集積回路装置

発明者： 鈴木 直志
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-095305
公開番号（公開出願番号）：特開平8-294229
出願日： 1995年04月20日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：

【要約】【目的】半導体集積回路内の温度を定量的に測定し、運用管理および回路特性の温度補正等に利用する。【構成】温度変化に応答して抵抗値が変化する抵抗Rと容量Cとから成るRC時定数回路を備え入力信号AをこのRC時定数回路の時定数に応じて遅延させ遅延信号Mを出力する遅延回路1と、入力信号Aに同期してクロックCKを発生するパルス発生回路2と、遅延信号MとクロックCKとの供給を受け遅延信号Mの発生時刻までクロックCKを通過させてカウント信号Sを生成するゲート回路3と、カウント信号Sをカウントするとともに信号A毎のカウント値を累算し累算カウント信号Pとして保持しリセット信号Wの供給に応答してこの累算カウント値Pを出力するカウンタ4とを備える。

請求項（抜粋）：

計数パルスを発生するパルス源と温度変化に応答して抵抗値が変化する抵抗とを備え予め定めた第1の周波数の温度測定信号の供給毎に応答して前記温度変化対応の前記抵抗値の変化を前記計数パルスのパルス数の変化に変換してカウント信号を発生する温度検出回路と、前記カウント信号を計数するとともに前記温度測定信号毎の計数値を累算し累算計数値として保持し前記第1の周波数より低い第2の周波数のリセット信号の供給に応答してこの累算計数値を出力するとともにリセットするカウンタとを備えることを特徴とする半導体集積回路装置。

IPC (7件)：

H02H 5/04 ,  G01K 7/20 ,  G01K 7/24 ,  H01L 23/58 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H02H 7/20

FI (6件)：

H02H 5/04 H ,  G01K 7/20 Z ,  H02H 7/20 F ,  G01K 7/24 F ,  H01L 23/56 D ,  H01L 27/04 F