特許
J-GLOBAL ID:200903096957850262

外観検査システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鳥巣 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-181383
公開番号(公開出願番号):特開2002-372496
出願日: 2001年06月15日
公開日(公表日): 2002年12月26日
要約:
【要約】【課題】高速で、精度よく、ワークの検出部位の画像を取り込んで、外観検査を行うことができる外観検査システムを提供する。【解決手段】搬送されているワークWを、固有の焦点距離を有するCCDカメラ2の上流側において、まず、前記ワークWの検出部位の通過位置のずれ量を変位検出センサー5によって検出する。この変位検出センサー5よりの信号を受けて、シーケンサー6によって移動装置4を駆動し、CCDカメラ2を前記ずれ量に応じて移動させて、CCDカメラ2の焦点位置を、ワークWの検出部位が通過するように調整する。
請求項(抜粋):
ワークを特定方向に搬送するワーク搬送手段と、このワーク搬送手段によるワークの搬送経路に焦点が位置し焦点距離が一定である撮像デバイスと、この撮像デバイスによって、前記ワークの検出部位を撮影して、画像処理する画像処理手段とを備え、前記ワークの外観を検査する外観検査システムであって、前記撮像デバイスに連係され前記撮像デバイスをそれの光軸方向に沿って往復移動させるデバイス移動手段と、前記ワークの搬送経路において前記撮像デバイスより搬送方向上流側に配設され前記ワークの検出部位の通過位置のずれ量を検出する非接触式の変位検出センサーと、この変位検出センサーよりの信号を受け、前記デバイス移動手段を制御して前記撮像デバイスを、前記ずれ量に対応して移動させる撮像位置補正手段とを備えることを特徴とする外観検査システム。
IPC (2件):
G01N 21/84 ,  G01B 11/30
FI (2件):
G01N 21/84 B ,  G01B 11/30 A
Fターム (20件):
2F065AA49 ,  2F065BB05 ,  2F065EE05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP02 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU03 ,  2G051AA07 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051CA03 ,  2G051CA20 ,  2G051CD10 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12

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