特許
J-GLOBAL ID：200903096988548050

ガラス製造工程を分析し制御するための分析システムおよび方法

発明者：
ダルシュトラ、ヨープ

ダルシュトラ、ヨープ について


出願人/特許権者：
イクスパル フィジィオン ベスローテン フェンノートシャップ

イクスパル フィジィオン ベスローテン フェンノートシャップ について


代理人 (4件)： 浅村 皓 ,  浅村 肇 ,  吉田 裕 ,  岩本 行夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-524392
公開番号（公開出願番号）：特表2005-534904
出願日： 2003年07月30日
公開日（公表日）： 2005年11月17日
要約：
ガラス製品のための成形工程を分析し、制御するための分析システム。前記分析システムは、赤外線感知測定システムと、この赤外線感知測定システムと通信するプロセッサとを備え、前記赤外線感知測定システムは、ガラス製品のための成形工程直後の高温のガラス製品からの赤外放射を測定するためのものであって、前記プロセッサは、測定システムが測定した情報に基づいて、ガラス製品の熱分布を測定するためのものである。赤外線感知測定システムは、いわゆる近赤外線(NIR)領域内の放射しか感知しないので、ガラス壁内部からの放射を測定することができる。そのため、新規の測定方法は、それにより、とりわけガラス壁の厚さの変化および温度の変化の間の違いを識別することができる。
請求項（抜粋）：
ガラス製品の製造工程を分析し制御するための分析システムであり、 前記製造工程が、成形工程および冷却工程を含み、 前記分析システムが、赤外線感知測定システムと、該赤外線感知測定システムと交信するプロセッサとを含み、 前記赤外線感知測定システムが、前記ガラス製品の前記成形工程直後に、高温ガラス製品から出る赤外放射を測定するために設けられ、 前記プロセッサが、前記測定システムによって測定された情報に基づいて、前記ガラス製品の熱分布を決定するために設けたものである、前記分析システムにおいて、 前記赤外線感知測定システム(30)が、近赤外線(NIR)領域内の放射線のみを感知することを特徴とする分析システム。
IPC (3件)：
G01J5/48 ,  G01J5/00 ,  G01N25/18
FI (3件)：
G01J5/48 ,  G01J5/00 101A ,  G01N25/18 J
Fターム (17件)：
2G040AA00 ,  2G040AB12 ,  2G040BA25 ,  2G040CA02 ,  2G040CA23 ,  2G040DA06 ,  2G040DA12 ,  2G040HA05 ,  2G040HA11 ,  2G040HA16 ,  2G066AC20 ,  2G066BA23 ,  2G066BA60 ,  2G066BB01 ,  2G066CA01 ,  2G066CA04 ,  2G066CA11
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示
引用文献：
審査官引用 (1件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM