特許
J-GLOBAL ID：200903096994831456
光沢度測定装置、光沢度測定方法およびキャリブレーション方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
渡辺 望稔
, 三和 晴子
, 福島 弘薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-378025
公開番号（公開出願番号）：特開2004-205463
出願日： 2002年12月26日
公開日（公表日）： 2004年07月22日
要約：
【課題】ハードコピーの濃度に依存せずに光沢度を測定することができる光沢度測定装置および光沢度測定方法を提供するともに、表面に所望の光沢が施された高画質の画像を得ることができるキャリブレーション方法を提供する。【解決手段】光沢度測定装置10は、表面に凹凸を形成して光沢度を変化させたプリント100の光沢度を測定するものである。光沢度測定装置10は光源L、第1のレンズ20、第1の偏光板22、第2の偏光板24、第2のレンズ26、センサD及び第2の偏光板24の偏光方向を直交する2方向に変える偏光方向変更手段(図示せず)を有する。第1の偏光板22による偏光を入射光Iiとしてプリント表面Sに入射させてプリント表面Sで反射された反射光Irを第2の偏光板24の偏光方向を2方向に変えて、センサDで夫々測定し、差をとり鏡面反射成分を求める。これにより、プリント表面Sの濃度に依らずに光沢度を測定できる。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
画像が記録されたハードコピーの表面に形成された透明層に、前記画像に対応した凹凸を形成して、光沢度を変化させた前記ハードコピーの光沢度を測定する光沢度測定装置であって、
光源と、
前記光源からの光を第1の偏光方向を持つ第1の偏光として透過させ、前記第1の偏光を前記ハードコピーに入射させる位置に配置される第1の偏光部材と、
前記第1の偏光が前記ハードコピーの表面で反射された反射光を、前記第1の偏光方向と同じ方向を持つ第2の偏光として透過させ、かつ前記第1の偏光方向と直交する偏光方向を持つ第3の偏光として透過させるように切り換えて使用される第2の偏光部材と、
前記第2の偏光および第3の偏光を測定するセンサとを有し、
前記第1の偏光の前記ハードコピーの表面への入射角度と、前記反射光の前記ハードコピーの表面に対する反射角度とが略同じであり、前記センサによる前記第2の偏光の測定値と第3の偏光の測定値との差に基づいて前記ハードコピーの光沢度を測定することを特徴とする光沢度測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (14件)：
2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059GG04
, 2G059GG10
, 2G059JJ11
, 2G059JJ19
, 2G059KK01
, 2G059LL04
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059MM10
, 2G059MM14
