特許
J-GLOBAL ID:200903096994972920

有限寿命電子部品およびその寿命確認方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-172050
公開番号(公開出願番号):特開2001-006976
出願日: 1999年06月18日
公開日(公表日): 2001年01月12日
要約:
【要約】【課題】 使用中の有限寿命電子部品の特性劣化状態を把握して再使用の可否を判断することができる有限寿命電子部品およびその寿命確認方法を提供することを目的とする。【解決手段】 電子部品本体1の外表面に少なくとも初期特性と寿命判定値を表示した構成とし、これを使用中に特性を測定し、この測定結果を表示部2に表示された内容と比較することにより、寿命推移時間ならびに余剰寿命の推定と再使用可否の判定ができる。
請求項(抜粋):
使用時間の経過に伴って特性が劣化する所定の寿命を定めた電子部品であって、この電子部品の外表面に少なくとも初期特性と寿命判定値を表示してなる有限寿命電子部品。
IPC (4件):
H01G 9/00 311 ,  G06K 19/06 ,  H01G 2/24 ,  H01G 13/00 361
FI (4件):
H01G 9/00 311 ,  H01G 13/00 361 Z ,  G06K 19/00 A ,  H01G 1/04
Fターム (11件):
5B035AA00 ,  5B035BB01 ,  5B035BB11 ,  5B035BB12 ,  5B035BC00 ,  5E082AB09 ,  5E082BC40 ,  5E082MM05 ,  5E082MM26 ,  5E082MM36 ,  5E082MM38
引用特許:
出願人引用 (1件)

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