特許

J-GLOBAL ID：200903097006954536

全反射減衰を利用したセンサー

発明者： 小倉 信彦
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-113647
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310903
出願日： 2001年04月12日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：

【要約】【課題】 表面プラズモン等による全反射減衰を利用したセンサーにおいて、センシング物質と被検体の結合の測定精度を低下させずに測定時間を短縮する。【解決手段】 試料液供給機構70により、被検体を含む試料液15をセンシング物質が固定された測定ユニット10に供給し、光ビーム30を測定ユニット10の内底面に形成された金属膜と、その下の誘電体ブロックとの界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させ、界面において全反射した光ビーム30を光検出器40で検出する。測定手段61は、該光検出値に基づいて時間経過に伴う全反射減衰角の角度変化に対応する変化量ΔI’を求める。測定制御手段66は、初期判定時間T1(20分)経過時に、変化量ΔI’が上限基準値Spより小さくかつ下限基準値Snより大きければ、最終判定時間Tf(2時間)経過時まで測定を継続するが、それ以外の場合には測定を終了して判定を行うので測定時間を短縮できる。

請求項（抜粋）：

光ビームを発生させる光源と、前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された薄膜層、この薄膜層の表面上に配されて、試料液中の特定物質と結合するセンシング物質、およびこのセンシング物質の上に前記試料液を保持する試料液保持機構を備えてなる測定ユニットと、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の入射角で入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を検出する光検出手段と、該光検出手段の間隔をおいた複数回の検出結果に基づいて、全反射減衰の状態の経時変化を反映した変化量を測定する測定手段と前記測定手段の動作を制御する測定制御手段とを備えた全反射減衰を利用したセンサーにおいて、最終判定時間Tfおよび初期判定時間T1(但しT1<Tf)および前記変化量の基準範囲を前記測定制御手段へ設定する設定手段をさらに備え、前記測定制御手段が、前記測定ユニットの測定開始から前記初期判定時間T1経過時に、前記測定手段により測定された前記変化量と前記基準範囲とを比較し、前記変化量が前記基準範囲内である場合には測定を終了し、また測定開始から前記最終判定時間Tf経過時に、測定が継続されている場合には、その測定を終了するよう制御するものであることを特徴とする全反射減衰を利用したセンサー。

IPC (5件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/13 ,  G01N 35/02 ,  G01N 35/04

FI (5件)：

G01N 21/27 C ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 21/13 ,  G01N 35/02 A ,  G01N 35/04 A

Fターム (37件)：

2G057AA02 ,  2G057AB04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BA03 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057HA04 ,  2G058AA01 ,  2G058AA10 ,  2G058CB04 ,  2G058CC08 ,  2G058CF02 ,  2G058CF12 ,  2G058CF21 ,  2G058EA02 ,  2G058EA12 ,  2G058GA02 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05 ,  2G059PP04