特許
J-GLOBAL ID：200903097028451317
表面粗さ形状測定機の測定条件自動設定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-170690
公開番号（公開出願番号）：特開2001-336928
出願日： 1996年11月01日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：
【要約】【課題】 表面粗さ形状測定の測定条件が容易に設定できる測定条件設定装置を安価に提供する。【解決手段】 作業者が、測定種別と算出規格を指定する入力手段21と、該当する各種パラメータが表示される表示部と、その中から必要なパラメータを指定するとそのパラメータが設定されるパラメータ設定部23と、その後ワークを測定(仮測定)すると、指定されたパラメータと測定データから算出されたパラメータ値とによってカットオフ値を自動設定するカットオフ値設定部26とを設けた。
請求項（抜粋）：
作業者が測定の種別及び算出規格の指定等をする入力手段と、前記入力手段で指定された測定種別及び算出規格の両方に該当するパラメータの種類を抽出するパラメータ抽出部と、前記抽出されたパラメータの種類等を表示する表示部と、前記パラメータ抽出部で抽出され前記表示部に表示されたパラメータの種類の中から、作業者が前記入力手段で指定したパラメータの種類を設定するパラメータ設定部と、あらかじめ設定された仮の測定条件によってワークを測定し測定データを得る測定部と、前記仮の測定条件及び設定された前記パラメータの種類によって前記測定データを解析する測定データ解析部と、前記解析された結果によって、あらかじめ設定された「パラメータの種類とカットオフ値との関係」の中から、設定された前記パラメータの種類及びパラメータ値に該当するカットオフ値を選択し設定するカットオフ値設定部と、から構成され、前記測定種別及び算出規格が指定されると、指定された測定種別及び算出規格の両方に該当するパラメータの種類を抽出して表示し、表示されたパラメータの種類の中から使用するパラメータの種類が指定されると、指定されたパラメータの種類を設定し、予め設定されている仮の測定条件でワークが測定されると、測定データを前記仮の測定条件及び設定されたパラメータの種類で解析し、該解析した結果によってカットオフ値を自動的に設定することを特徴とする表面粗さ形状測定機の測定条件自動設定装置。
Fターム (16件)：
2F069AA54
, 2F069AA57
, 2F069AA62
, 2F069AA66
, 2F069BB40
, 2F069DD15
, 2F069GG01
, 2F069GG62
, 2F069GG74
, 2F069HH02
, 2F069JJ08
, 2F069MM24
, 2F069NN09
, 2F069NN17
, 2F069NN26
, 2F069QQ01
