特許

J-GLOBAL ID：200903097031474760

レーザーイオン化質量分析装置および測定方法

発明者： 宮澤 邦夫 ,  永野 英樹 ,  近藤 隆明
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 田中 政浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-164515
公開番号（公開出願番号）：特開平11-352105
出願日： 1998年06月12日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：

【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザー多光子イオン化質量分析技術において、分析精度の高い測定装置を提供する。【解決手段】 上記課題は、試料ガスをレーザーイオン化質量分析装置に送入する配管の内面が不活性化処理され、あるいは該配管に加熱手段が設けられているレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。

請求項（抜粋）：

試料ガスをレーザーイオン化質量分析装置に送入する配管の内面が不活性化処理されていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置

IPC (4件)：

G01N 27/62 ZAB ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/14

FI (4件)：

G01N 27/62 ZAB V ,  G01N 27/62 F ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/14