特許

J-GLOBAL ID：200903097045243957

光学干渉計

発明者： ウェイン・ブイ・ソリン ,  ダグラス・エム・ベイニー
出願人/特許権者： ヒューレット・パッカード・カンパニー
代理人 (1件)： 長谷川 次男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-027290
公開番号（公開出願番号）：特開平5-264215
出願日： 1993年01月22日
公開日（公表日）： 1993年10月12日
要約：

【要約】【目的】測定時間が著しく短縮された低干渉性反射測定方式を提供する。【構成】本発明の一実施例によれば、レイリー後方散乱の測定に使用される、改良された低干渉性反射計が提供される。本発明は光学増幅器を使用して後方散乱光を増幅し、これにより、測定時間を減じる。好ましい光学増幅器は、増幅器および低干渉性光源の両方として動作するダイオードポンピングされた超蛍光性ファイバーである。信号平均時間における100倍の減少は、増幅器の使用により達成される。

請求項（抜粋）：

低干渉性光信号を供給する信号源手段と、前記低干渉性光信号を第1および第2光信号に分割する分割手段と、前記第1光信号の一部を被測定装置に印加する手段と、第1および第2ポートの光信号を結合して結合光信号を発生する加算手段と、前記結合光信号の振幅を測定する検出手段と、前記第1光信号を前記被測定装置に印加することにより発生する後方散乱光の一部を集め、該集められた後方散乱光の一部を前記加算手段の前記第1ポートに入力する手段と、前記第2光信号の一部を前記加算手段の前記第2ポートに入力する手段と、前記後方散乱光および前記第2光信号が前記加算手段に入る前に進行した光学経路長差を変える手段と、前記集められた後方散乱光の前記一部を、前記後方散乱光の前記一部が前記加算手段に入る前に増幅する光学増幅手段と、を備えてなる光学干渉計。