特許
J-GLOBAL ID：200903097092415901
非接触測定器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石橋 佳之夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-003294
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189523
出願日： 1996年01月11日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：
【要約】【課題】 架線の磨耗や車両等の奥まった部分、手の届かない部分のクラック、または橋桁のクラック等を簡単に測定でき、さらには測定環境が明るい場合でも測定可能な非接触測定器を得る。【解決手段】 測定対象物を観察するための観察光学系と、上記観察光学系中に導入されている基準線と、上記観察光学系の光軸を平行移動させる光軸平行移動手段とを有してなる。
請求項（抜粋）：
測定対象物を観察するための観察光学系と、上記観察光学系中に導入されている基準線と、上記観察光学系の光軸を平行移動させる光軸平行移動手段とを有してなり、上記光軸平行移動手段を操作して測定対象物像の特定の位置を上記基準線に合わせたときの上記光軸平行移動手段の位置から、測定対象物像の別の特定の位置を上記基準線に合わせたときの上記光軸平行移動手段の位置までの上記光軸平行移動手段の移動量によって測定対象物の寸法を測定することを特徴とする非接触測定器。
IPC (4件)：
G01B 11/02
, B60M 1/28
, G01B 21/00
, G06T 7/00
G01B 11/02 Z
, B60M 1/28 R
, G01B 21/00 W
, G06F 15/70 330 N
