特許
J-GLOBAL ID:200903097097305209
計測装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-285329
公開番号(公開出願番号):特開2000-111593
出願日: 1998年10月07日
公開日(公表日): 2000年04月21日
要約:
【要約】【課題】 スイッチのオン抵抗を気にすることなく、コンタクトチェックを行うことができる計測装置を実現することを目的にする。【解決手段】 本発明は、被測定対象に接続し測定を行う計測装置に改良を加えたものである。本装置は、測定用の電源と別系統の電源により、コンタクトチェック用の定電流を流す定電流源と、被測定対象の測定用の配線に接続すると共に、定電流源に接続し、配線のチェック時にオンするスイッチ部とを有し、配線の抵抗によりコンタクトチェックを行うことを特徴とする装置である。
請求項(抜粋):
被測定対象に接続し測定を行う計測装置において、測定用の電源と別系統の電源により、コンタクトチェック用の定電流を流す定電流源と、前記被測定対象の測定用の配線に接続すると共に、前記定電流源に接続し、配線のチェック時にオンするスイッチ部とを有し、前記配線の抵抗によりコンタクトチェックを行うことを特徴とする計測装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R 27/02 R
, G01R 31/02
Fターム (15件):
2G014AA01
, 2G014AB27
, 2G014AC07
, 2G014AC15
, 2G028AA03
, 2G028CG02
, 2G028CG07
, 2G028DH03
, 2G028DH13
, 2G028FK01
, 2G028FK08
, 2G028GL07
, 2G028HN11
, 2G028HN13
, 2G028LR02
引用特許:
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