特許
J-GLOBAL ID:200903097103912473
パターン認識方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小鍜治 明 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-007302
公開番号(公開出願番号):特開平5-196424
出願日: 1992年01月20日
公開日(公表日): 1993年08月06日
要約:
【要約】【目的】 回路基板に部品を装着する実装機において、リード付き部品のリード位置を撮像し検出するものであり、2値画像及び濃淡画像に対応できる。【構成】 対象物に傾き検出ウインドゥ13を設定し、このウインドゥ内で射影、一次微分を行なうことによって、リードの中心位置を求める。
請求項(抜粋):
撮像手段により対象物を撮像して得られる画像に対して対象物の傾きを検出する第1の工程と、前記第1の工程で得られた対象物の傾きから、処理すべき領域を設定する第2の工程と、前記処理すべき領域において所定の方向に射影を行なう第3の工程と、前記第3の工程にて得られた射影データに対して1次微分をする第4の工程と、対象物のサイズを判定する第5の工程と、前記第4の工程にて得た1次微分値の符号が所定の方向に変化するゼロとなる点を検出する第6の工程とを備えたことを特徴とするパターン認識方法。
IPC (4件):
G01B 11/00
, G06F 15/62 405
, G06F 15/70 450
, H05K 13/04
引用特許:
審査官引用 (4件)
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特開平2-110302
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特開昭62-086789
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特開平2-118404
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