特許
J-GLOBAL ID：200903097171344793
表層厚さ測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-196534
公開番号（公開出願番号）：特開2000-009414
出願日： 1998年06月26日
公開日（公表日）： 2000年01月14日
要約：
【要約】【課題】 導電性材質の丸棒材の表層厚さを、非破壊的に短時間でかつ標準試料を用いずに測定する。【解決手段】 電磁誘導電圧測定器と該装置からの誘導電圧信号から表層厚さを計算する表層厚さ測定方法であり、電磁誘導電圧測定器が、少なくとも一つの空心コイルからなる導電性棒材のインダクタンス測定子と、該コイルに少なくとも3つ以上の周波数において交流の励磁電流を供給することができる励磁用電気回路部2と、該コイルの発生する電圧の振幅と励磁電流に基準とした位相を検出する電圧検出部3とからなるものであり、複数の周波数での誘導電圧またはそれから導かれるインダクタンスの測定値から、断面の材質が二層状構造をなす丸棒の被検査材について、外径値のみを既知として各層の電気電導率と透磁率および表層厚さ変数とする回帰分析を行うことにより表層厚さを計算する。
請求項（抜粋）：
表層部と内層部からなる被測定物である導電性の棒材や線材を空心コイルの内部に同心になるように固定し、該コイルに正弦波の電流を供給し、該コイルまたは被測定物を貫通し該コイルに隣接して設けた別のコイルに発生する電磁誘導電圧の振幅と前記励磁電流を基準とした位相を測定し、前記励磁電流の正弦波の周波数を変化させて前記測定を繰り返し、得られた測定値から被測定物の自己または相互インダクタンスを算出するとともに、該算出値と別途用意した表層部と内層部からなる2層モデルの自己または相互インダクタンスのモデル式を用いて回帰計算を行い、前記理論計算のパラメータである表層部の厚みを求めることを特徴とする表層厚さ測定方法。
Fターム (12件)：
2F063AA16
, 2F063BB02
, 2F063BC04
, 2F063BD13
, 2F063CA11
, 2F063CA28
, 2F063DA01
, 2F063DC08
, 2F063DD02
, 2F063GA03
, 2F063GA29
, 2F063LA30
