干渉計デバイス及び干渉法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：吉武賢次 , 永井浩之 , 岡田淳平 , 勝沼宏仁 , 加島広基
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-293492
公開番号（公開出願番号）：特開2009-150875
出願日： 2008年11月17日
公開日（公表日）： 2009年07月09日
要約：

【課題】干渉計デバイス及び干渉法を開示する。【解決手段】一実施形態において、デバイスは、第1の平均波長λLEの放射線を放射する電磁放射線源と、第1のアスペクト比を持つ位相格子と、第2のアスペクト比を持つ吸収格子と、検出器と、を備えている。電磁放射線源、位相格子、吸収格子、及び検出器は、放射線に関して互いに連結されている。吸収格子は、検出器と位相格子との間に配置されており、電磁放射線源は線源格子の前方に配置されており、位相格子は、放射された放射線において、Πよりも小さい位相シフトを生じさせるよう設けられている。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

放射線を放射する電磁放射線源(510)と、複数の格子バーを含み、第1のアスペクト比を持つ位相格子(522)と、第2のアスペクト比を持つ吸収格子(523)と、検出器(540)と、を備え、前記電磁放射線源(510)、前記位相格子(522)、前記吸収格子(523)、及び前記検出器(540)は、放射線に関して互いに連結されており、前記吸収格子(523)は、前記検出器(540)と前記位相格子(522)との間に配置されており、前記電磁放射線源(510)は前記線源格子の前方に配置されている、干渉計デバイス(500)において、前記位相格子(522)は、前記格子バーを通過する放射線の少なくとも一つの波長において、当該少なくとも一つの波長に関して、前記格子バーの間を通過する放射線に対してΠよりも小さい位相シフト(ΔΦ)を生じさせるよう設けられている、ことを特徴とする干渉計デバイス(500)。

IPC (3件)：

G01N 23/04 , A61B 6/00 , G01N 21/45

FI (3件)：

G01N23/04 , A61B6/00 330Z , G01N21/45 A

Fターム (39件)：

2G001AA01 , 2G001AA03 , 2G001AA09 , 2G001AA10 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA01 , 2G001DA02 , 2G001DA06 , 2G001EA01 , 2G001EA06 , 2G001EA09 , 2G001FA01 , 2G001GA01 , 2G001GA06 , 2G001JA01 , 2G001JA08 , 2G001KA01 , 2G001KA12 , 2G001LA01 , 2G001PA12 , 2G059AA05 , 2G059AA06 , 2G059EE01 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059GG03 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059HH05 , 2G059JJ02 , 2G059JJ05 , 2G059KK01 , 4C093AA07 , 4C093CA04 , 4C093EA11 , 4C093EA20 , 4C093EB24 , 4C093EB30

引用特許：

出願人引用 (7件)

米国仮特許出願第60/988,278号
欧州特許出願第EP1731099号
国際特許出願第WO2007074029号

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審査官引用 (9件)

X線撮像装置および撮像方法
公報種別：再公表公報出願番号：JP2003016670 出願人：百生敦
X線タルボ干渉計に用いられる位相型回折格子と振幅型回折格子の製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-076921 出願人：財団法人新産業創造研究機構
X線装置の焦点-検出器装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-020091 出願人：シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト

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