X線検査装置の設計方法及びX線検査装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：春日讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-345741
公開番号（公開出願番号）：特開平6-194451
出願日： 1992年12月25日
公開日（公表日）： 1994年07月15日
要約：

【要約】【目的】X線検査装置の設計方法及びX線検査装置において、検出素子やコリメータの最適寸法についての設計基準を与え、設計を容易にすると共に、撮影時間の短縮と良好な断層像を得ることを可能とする。【構成】X線が検出素子6に入射することにより発生する2次電子の有効最大飛程bを計算し、この有効最大飛程bと検出素子の有効開口幅aとで求められるa+2bを基準にして検出素子の有感部の幅Wdを決定する。例えば、幅Wdをa≦Wd≦a+2bを満たすように設計する。また、入射するX線の最大エネルギーと等しいエネルギーの2次電子の最大飛程をcとするとき、幅Wdをa+2b<Wd<a+2cを満たすように設計する。

請求項（抜粋）：

試料にX線を照射するためのX線源と、回転並進移動して試料を操作する操作手段と、前記X線源により発生したX線の進行方向と垂直な方向に配列され、前記試料を透過したX線を検出する複数の検出素子を有するX線検出器と、前記複数の検出素子の前方に配置され、前記各検出素子の有効開口幅を画定するコリメータとを備えるX線検査装置の設計方法において、前記X線が前記検出素子に入射することにより発生する2次電子の有効最大飛程を計算すること;前記コリメータにより画定される前記各検出素子の有効開口幅をa、前記2次電子の有効最大飛程をbとするとき、前記各検出素子の有感部の幅Wdをa+2bを基準にして設計すること;を特徴とするX線検査装置の設計方法。

IPC (3件)：

G01T 1/20 , A61B 6/03 320 , A61B 6/03

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭58-033877
特開昭62-177472
特開昭63-090176

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