特許
J-GLOBAL ID:200903097195800951

あいまい頻出集合の探索方法及び探索装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 宮川 貞二 ,  柴田 茂夫 ,  金井 俊幸 ,  加藤 治彦 ,  金子 美代子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-071128
公開番号(公開出願番号):特開2009-230186
出願日: 2008年03月19日
公開日(公表日): 2009年10月08日
要約:
【課題】あいまい頻出集合のパターンを完全かつ短時間に抽出する探索方法を提供する。【解決手段】各トランザクションTがアイテム集合Eの部分集合になっているデータベースD、アイテムeの平均包含率が閾値θ以上、かつ、頻出度数σ以上に対するあいまい頻出集合P0の探索方法であって、あいまい頻出集合Pの正規出現AmbiOcc(P)を求める工程と、正規出現AmbiOcc(P)に含まれる数が最小であるアイテムを代表アイテムe*(P)と定める工程と、正規出現AmbiOcc(P)のトランザクションから代表アイテムe*(P)を除いて親と定める工程と、あいまい頻出集合P0の頻出パターンPの候補を選択するパターン選択工程とを備え、頻出パターンの各候補について、あいまい頻出集合P0に属するか否かを判断し、親子関係を決定し、あいまい頻出集合P0に属する頻出パターンPを全て抽出する。【選択図】図7
請求項(抜粋):
データベースD内に頻繁に現れる頻出パターンPを、あいまい性を許容して抽出するあいまい頻出集合の探索方法であって; 前記データベースDのデータが、アイテムeからなるアイテム集合Eの部分集合であるトランザクションTからなるデータベースDであり; 前記頻出パターンPが、構成アイテムeの平均包含率が閾値θ以上、かつ、頻出度数(最大共起数)が閾値σ以上を条件とするあいまい頻出集合P0のパターンであり;
IPC (1件):
G06F 17/30
FI (1件):
G06F17/30 350C
Fターム (4件):
5B075NK06 ,  5B075NK39 ,  5B075PR04 ,  5B075QM08
引用特許:
審査官引用 (1件)
引用文献:
審査官引用 (4件)
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